奧林巴斯掃描探針顯微鏡OLS4500

簡要描述：輕松實現從毫米到納米無縫轉換測量。兼具激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。 85° 采用了有著高的專y物鏡和專用光學系統（能*大限度發揮激光性能），可以*確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。 LEXT 由于采用的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡，達到了μ的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。

更新時間：2024-04-19
產品型號：OLS4500

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奧林巴斯顯微鏡

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詳細介紹

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輕松實現從毫米到納米無縫轉換測量。
兼具激光顯微鏡和探針顯微鏡功能的一體機。
輕松檢測85°
尖銳角采用了有著高N.A. 的專y物鏡和專用光學系統（能*大限度發揮405 nm 激光性能），LEXT OLS4500 可以*確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。

LEXT 專用物鏡有尖銳角的樣品（剃刀）

高度分辨率10nm，輕松測量微小輪廓

由于采用405 nm的短波長激光和更高數值孔徑的物鏡，OLS4500達到了0.12μm的平面分辨率。因此，可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結合高精度的光柵讀取能力和奧林巴斯近有的亮度檢測技術，OLS4500可以分辨出亞微米到數百微米范圍內的高度差。此外，激光顯微鏡測量還保證了測量儀器的兩大指標——“正確性”（測量值與真正值的接近程度）和“重復性”（多次測量值的偏差程度）的性能。

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